Cary 7000 多角度可変自動測定分光光度計（UMS）

• 包括的なサンプル測定を実現します。
• 1 回のシーケンスで絶対反射と透過を測定します。入射角度や偏光測定を組み合わせることが可能です。サンプルを着脱する必要はありません。
• 検出器とサンプルの位置を個別に制御および移動することができ、さまざまな角度における拡散透過や拡散反射を測定することができます。
• 大きなサンプルコンパートメントにより、大きなサイズから小さなサイズまで、あらゆる種類のサンプルに対応します。360 度のスムーズな回転が可能です。
• サンプルの最終要件に合わせてビームのコリメーションとパッチサイズを完全に制御できます。
• 自動化やロボティクスによって分析あたりのコストを抑え、時間と費用を節約できます。
• 従来、数時間から数日かかっていた測定を自動で行うことができ、測定時間を短縮できます。
• メソッドを設定し、すべての角度に対してのベースラインを 1 回だけ収集し、サンプルを設置すれば、自動で測定されます。
• これまでにない 10 Abs の測光範囲により、材料に関する新たな情報を取得できます。
• ベースとなる Cary 7000 UMS は測光範囲が 10 Abs で、高光学密度（OD）や難しい測定条件下などの困難なサンプル測定においても確実に高品質な結果を得ることができます。
• 次世代の Cary WinUV ソフトウェアを使用して、高品質な結果を迅速に得ることができます。
• Cary WinUV ソフトウェアの新しいメソッドエディタにより、簡単なメソッド設定、高度なデータ処理、3D グラフィックが提供され、データ解析を高速かつ正確に行うことができます。

• ダブルビーム分光光度計

• 制御ソフトウェア	UV-Vis-NIR アプリケーション用 Cary WinUV
  奥行	380 mm
  高さ	2～2,000 ng/µL（BSA in PBS）
  光源	タングステンハロゲン可視および重水素アーク UV
  最大スキャン速度	UV-Vis 2,000 nm/min NIR 8,000 nm/min
  測光範囲（Abs）	10 Abs
  測光システム	ダブルビーム
  電源要件	100～240 VAC、50/60 Hz
  スペクトルバンド幅	UV-Vis 0.01～5.00 nm NIR 0.04～20 nm
  波長	175～3300 nm
  重量	91 kg
  幅	1020 mm
  光軸高さ	20 mm

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  多角度 UV-Vis-NIR 分光光度計

  サンプルを脱着すことなく、絶対反射率と透過率を一連の操作で測定することができます。さらに、さまざまな入射角度と偏光測定を組み合わせることにより、サンプルの完全な光学特性解析ができます。Cary 7000 UMS は真の多角度可変自動測定システムです。複数のアクセサリを用意する必要がなくなり、アクセサリの載せ替え/再構成も不要です。このような設計により、サンプルの不均一性による影響が排除され、優れたデータ品質が保証されます。1 つの測定に複数の分析手法を使用することによって発生するスペクトルの不整合も回避できます。

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  10 Abs までを測定

  Cary 7000 UMS は、紫外-可視-近赤外分光光度計として最高の品質と性能を有しています。極限まで低減されたノイズと 10 Abs の測光範囲により、光学的に高密度なフィルタなどの分析が困難なサンプルであっても、高品質の測定結果を取得することができます。

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  固体サンプル用オートサンプラ

  Agilent ソリッドオートサンプラで Cary 7000 UMS と多角度可変自動測定アクセサリ（UMA）の材料分析を一新できます。 ソリッドオートサンプラは UMS と UMA の生産性と機能を高めます。1 回の分析で最大 32 個（1 インチ）のサンプルを分析できます。また、2 mm x 2 mm までの空間分解能で、大型サンプル（最大 8 インチ）のコーティング均一性のプロファイリングが可能です。ソリッドオートサンプラは、薄膜、コーティング、光学部材、ガラス、太陽電池などの高度な材料の研究および QA/QC 分析に最適なアクセサリです。

  UV-Vis-NIR アクセサリを見る

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  薄膜、光学、ガラスにおける Cary UV-Vis-NIR

  材料の光学特性の正確な測定は、応用研究や製品開発、生産における設計と試作、製造、および品質管理などをサポートします。Cary UV-Vis-NIR 分光光度計は、反射と透過を柔軟かつ堅牢に測定することができ、大量の光学部品（ミラー、レンズ、フィルタ）の製造をサポートします。高度な自動化オプションを通じて迅速に知見を得ることができ、分析あたりのコストを最小限に抑えることができます。

  フィルム、光学、ガラスアプリケーションを見る

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  半導体における Cary UV-Vis-NIR — フォトニクスデバイスおよびオプトエレクトロニクスデバイス

  フォトニクスデバイスやオプトエレクトロニクスデバイスの進化では、光の検出や制御が重要な役割を担っており、精度や測定の柔軟性が鍵になります。Cary UV-Vis-NIR 分光光度計は、フォトニクスデバイスとあらゆるサイズや形状のコンポーネントに関する特定のテスト・測定ソリューションを提供します。幅広いダイナミックレンジ、光学密度、スペクトル分解能で光の反射率と透過率を測定できます。

  フォトニクスおよびオプトエレクトロニクスアプリケーションを見る

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  高性能材料およびナノ材料向けの Cary UV-Vis-NIR

  Wiley 電子書籍『UV-Vis-NIR 分光法によるナノマテリアル研究』をご覧いただくと、ナノ材料分析手法と UV-Vis-NIR 分光光度計に関する知識を深めることができます。
  
  中国、米国、オーストラリアの研究者による 3 つのケーススタディで、UV-Vis-NIR 分光光度計によるナノ材料分析の最新事例をご覧いただけます。

  UV-Vis-NIR に関する電子書籍をダウンロード

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  Cary 7000 に関する査読済み文献

  Cary シリーズ UV-Vis-NIR 分光光度計は、主要な学術機関や政府機関で幅広く採用されています。科学文献や Google Scholar などの公開データベースで、Cary 7000 に関するさまざまな文献を見つけることができます。

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