工業副生成物の高感度分析

ダイオキシンおよびフランは、燃焼生成物やその他の副生成物として工業プロセスから発生する汚染物質です。これらの化合物は、US EPA 1613B など、テトラからオクタジベンゾダイオキシンおよびフランの測定メソッドを活用して、環境規制当局によって集中的にモニタリングされています。アジレントの機器は、水中のダイオキシンおよびフランの分析のための、EPA 1613B やその他の規制メソッドの要件を優に満たすことが可能です。

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Agilent トリプル四重極 GC/MS による EPA 1613B の代替試験プロトコル

ダイオキシンは、微量レベルでも慢性暴露、環境内での残留性、食物連鎖での生物蓄積による悪影響の懸念がある汚染物質として、各国の環境規制当局によってモニタリングされています。US EPA メソッド 1613B は、同位体希釈-GC/HRMS によって多様なマトリックス中のテトラからオクタ塩化ダイオキシンおよびフランを測定するためのガイドとなっています。アジレントは、Agilent 7890B GC と Agilent 7010B トリプル四重極 GC/MS を使用した、EPA 1613B – SGS AXYS 16130 に対する代替試験プロトコルを共同開発しました。



GC/TQ による、食品/環境サンプル中のダイオキシンのルーチン分析における進展

このウェブキャストでは、EPA と SANTE のガイドラインに従って、環境サンプルや食品サンプル中のダイオキシンのルーチン分析にトリプル四重極 GC/MS を使用した事例を紹介します。環境サンプルのための US EPA メソッドと食品サンプルのための EU 644/2017 によって設定された規制性能基準に対して、ルーチン試験ラボが容易に準拠できるようにする、超高感度イオン源などのテクノロジーの進展について説明します。



環境中の残留性有機汚染物質の分析

Peter Haglund 教授(スウェーデン、ウメオ大学、環境および分析化学)は、残留性汚染物質の分析を専門とするラボを率いています。研究では、複雑なマトリックス中の有毒化学物質を正確に定量することと、有害の恐れがある新たな種の残留性有機汚染物質を同定することが含まれます。環境中のこれらの未知化合物の微量分析に、どのように Agilent GC/Q-TOF 機器を適用しているかについて、Haglund 教授が説明します。




ダイオキシンおよびフランのアプリケーション

テトラ/オクタ塩化ダイオキシンおよびフランの分析

このアプリケーションでは、US EPA メソッド 1613B の性能基準を満たしつつ、トリプル四重極 GC/MS を使用してポリ塩化ジベンゾ-p-ダイオキシンとジベンゾフランを分析しました。

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米国水質浄化法の分析メソッド

SGS AXYS メソッド ATM 16130 は、廃水中のテトラからオクタ塩化ジベンゾ-p-ダイオキシンおよびジベンゾフランの分析のための要件をすべて満たします。

USEPA ステートメントを読む(英語)

ダイオキシンの分析およびターゲット/ノンターゲットスクリーニング

このウェビナーでは、ダイオキシンの分析のための EPA メソッド 1613 の性能特性を優に満たす方法である GC/Q-TOF メソッドのバリデーションについて説明します。

ウェビナーを見る(英語)

GC/MS 消耗品を用いたダイオキシンサンプルの分析

オーダーガイドで、標準試薬、カラム、ガスフィルタなど、ダイオキシンの分析で使用されるアジレントの消耗品の詳細を確認できます。

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