例えばこのようなお悩みはありませんか?
- 高マトリクス中の微量元素を一斉分析したい
- Si 、P 、S も ICP-MS で測定したい
- 信号強度や測定値が安定しない元素がある
従来のシングル四重極型 ICP-MS では不可能である様々な分析が Agilent 8900 ICP-QQQ ならば可能になります。
高マトリクス中の微量分析の測定
"高いアバンダンス感度" " MS/MS モード" により、これまで複数にまたがっていた前処理や分析装置(原子吸光装置や ICP 発光装置など)を 8900 ICP-QQQ に統括して分析することが可能です。
Si 、P 、S の微量測定
MS/MS モードによる干渉除去効果により、Si 、P 、S の微量分析が可能になります。
ナノ粒子の測定
溶液中で測定対象の元素がナノ粒子を形成していると、ICP-MS でスパイク状の信号が検出されることがあります。
8900 ICP-QQQ は高感度なナノ粒子分析ができます。ナノ粒子の粒径分布が正確に算出できます。
シングル ICP-MS | トリプル ICP-MS | ||
---|---|---|---|
7800 | 7900 | 8900 | |
Au に対する応答係数 ( cps / ppb ) |
216000 | 288000 | 392000 |
ドウェルタイム(秒) | 0.0001 | 0.0001 | 0.0001 |
BEM( fg ) | 0.00035 | 0.00026 | 0.00020 |
BED( nm ) | 3.25 | 2.95 | 2.69 |
Agilent 8900 トリプル四重極 ICP-QQQ の特長
最上位グレードの ICP-MS
究極の干渉除去性能
優れたアバンダンス感度
半導体業界のスタンダード機種
シングル ICP-MS の分析のお悩み、Agilent トリプル四重極型 ICP-QQQ が解決します。お気軽にお問い合わせください。