例えばこのようなお悩みはありませんか?

  1. 高マトリクス中の微量元素を一斉分析したい
  2. Si 、P 、S も ICP-MS で測定したい
  3. 信号強度や測定値が安定しない元素がある
悩み

従来のシングル四重極型 ICP-MS では不可能である様々な分析が Agilent 8900 ICP-QQQ ならば可能になります。

高マトリクス中の微量分析の測定

"高いアバンダンス感度" " MS/MS モード" により、これまで複数にまたがっていた前処理や分析装置(原子吸光装置や ICP 発光装置など)を 8900 ICP-QQQ に統括して分析することが可能です。

Agielnt 7850 ICP-MS のAs, Se, Pb の検量線

図1. 0.1% Fe 溶液中の Mn の信号。
8900 ICP-QQQ では Fe の強大な信号の影響を受けず、 55Mn を正確に検出できます。

Agielnt 7850 ICP-MS のAs, Se, Pb の検量線

図2. 0.1% Fe 溶液中の 55Mn 検量線。
8900 ICP-QQQ では 1 ppb 未満の BEC (バックグラウンド等価濃度)を達成できます。

Agielnt 7850 ICP-MS のAs, Se, Pb の検量線

図3. ホットプラズマ条件での超純水中の K 、Ca 、Fe 、Ni の検量線(オプションの m- レンズを使用)。
8900 ICP-QQQ はホットプラズマにおいても非常に良好な DL(検出下限値)と BEC が得られます。

Si 、P 、S の微量測定

MS/MS モードによる干渉除去効果により、Si 、P 、S の微量分析が可能になります。

Agielnt 7850 ICP-MS 検出下限表

図4. 干渉除去メカニズム。32S+ に干渉する 16O2+ の除去の原理を示しています。

Agielnt 7850 ICP-MS 検出下限表

図5. Si 、P 、S の検量線。酸素マスシフトにより、ppb オーダーの微量分析が可能になります。

ナノ粒子の測定

溶液中で測定対象の元素がナノ粒子を形成していると、ICP-MS でスパイク状の信号が検出されることがあります。
8900 ICP-QQQ は高感度なナノ粒子分析ができます。ナノ粒子の粒径分布が正確に算出できます。

図6. ナノ粒子分析の概念図。ナノ粒子を時間分析し、
																	個数とピーク強度からナノ粒子の粒径分布を算出します。

図6. ナノ粒子分析の概念図。ナノ粒子を時間分析し、 個数とピーク強度からナノ粒子の粒径分布を算出します。

シングル
ICP-MS
トリプル
ICP-MS
780079008900
Au に対する応答係数
( cps / ppb )
216000 288000 392000
ドウェルタイム(秒) 0.0001 0.0001 0.0001
BEM( fg ) 0.00035 0.00026 0.00020
BED( nm ) 3.25 2.95 2.69
※ BEM : バックグラウンド等価質量 ※ BED : バックグラウンド等価径

表1. ナノ粒子分析におけるシングル ICP-MS と 8900 ICP-QQQ の性能比較。
8900 ICP-MS はより微小なナノ粒子まで検出することができます。

Agilent 8900 トリプル四重極 ICP-QQQ の特長

最上位グレードの ICP-MS
究極の干渉除去性能
優れたアバンダンス感度
半導体業界のスタンダード機種

4 時間に及ぶ海水の長期安定性試験データ

Agilent 8900 トリプル四重極 ICP-QQQ

シングル ICP-MS の分析のお悩み、Agilent トリプル四重極型 ICP-QQQ が解決します。お気軽にお問い合わせください。