例えばこのようなお悩みはありませんか?

  1. ICP-OES の分析では、As, Se, Pb 等の特定の元素において、前処理・測定が異なり、工数を要している。
  2. シーケンシャル型ICP-OES を使用しているが、多元素測定する際、多くの時間を要している。元素によっては、要求される管理濃度が厳しいことがあり、今後、ますます多元素の測定のニーズが出てきていて、対応できるか不安。
  3. ICP-OES の分析では、高マトリックスサンプルの測定をすることが多い。
    ICP-MS で問題なく測定できるか不安。
お悩み

ICP-OES の分析のお悩み、Agilent 7850 ICP-MS が解決します。

ICP-OES の分析では、As、Se、Pb 等の特定の元素において、前処理・測定が異なり、工数を要している。

ICP-MS の分析では、水素化物発生法、キレート樹脂による濃縮などを使わず、As,Se,Pb の高感度分析が可能です。 装置の稼働日の見直しにより、ランニングコストを抑えた運用を可能にします。

Agielnt 7850 ICP-MS のAs, Se, Pb の検量線

Agielnt 7850 ICP-MS のAs, Se, Pb の検量線
DL(検出下限)、BEC(バックグランド等価濃度)の単位はppb
プラズマ条件は、低マトリックスモード

シーケンシャル型ICP-OES を使用しているが、多元素測定する際、多くの時間を要している。元素によっては、 要求される管理濃度が厳しいことがあり、今後、ますます多元素の測定のニーズが出てきていて、対応できるか不安。

ICP-MS なら、ppt オーダーの高感度な多元素一斉分析ができます。 Agilent 独自のIntelli Quant モードにより、標準液を使わず、全元素の定性・半定量分析も可能です。

Agielnt 7850 ICP-MS 検出下限表

Agielnt 7850 ICP-MS 検出下限表各元素最適な条件での参照値で、保証値ではありません

ICP-OES の分析では、高マトリックスサンプルの測定することが多い。
ICP-MS で問題なく測定できるか不安。

Agilent 独自のUHMI(ハイマトリックス導入モード)により、海水、更に、飽和食塩水の直接分析が可能です。
Agilent ICP-MS では、プリセットプラズマとフルオートチューニングにより、初めての方でも、条件検討に苦労する ことなく、マトリックスによる干渉を抑制した測定が可能です。

4 時間に及ぶ海水の長期安定性試験データ

4 時間に及ぶ海水の長期安定性試験データ

プラズマ条件
Agilent 7850 ICP-MS

Agilent 7850 ICP-MS

ICP-OES の分析のお悩み、Agilent 7850 ICP-MS が解決します。お気軽にお問い合わせください。