フォトニクスおよびオプトエレクトロニクスデバイスは、半導体エレクトロニクスと同様の経緯をたどり、オンチップ実装と小型化により進化してきました。光の検出と制御は、基盤技術の進歩において決定的な役割を担っており、その精度と測定の柔軟性が重要になります。また、オプトエレクトロニクスデバイスの特性と性能も、半導体エレクトロニクスと同様に、使用材料の純度に左右されます。オプトエレクトロニクスデバイスには、レーザー、光ファイバー、通信システム、LED、ディスプレイ、イメージング技術、センサーなど、さまざまな消費財および産業アプリケーションがあります。アジレントの UV-Vis および UV-Vis-NIR 分光光度計では、フォトニックデバイスや、あらゆるサイズと形状の部品に使用できる、特定のフォトニクス試験および測定ソリューションが提供されます。広いダイナミックレンジ、光学密度、およびスペクトル分解能にわたり、光の反射率と透過率を測定することができます。
フランスのグノーブルに本部を置く LETI の研究科学者である Christoph Licitra 氏のお話を視聴いただけます。同氏は、ガラス基板上に複数の層を成膜させた光学フィルタの開発と、このプロセス全体にわたる光学特性の制御に重点を置いた研究に取り組んでいます。その研究に、ウエハ全体の光学特性を測定可能な Agilent Cary 7000 多角度可変自動測定分光光度計を使用することにより、光学フィルタの分光分析が簡素化されました。
このウェビナーでは、湿式化学合成による、真空ベースのプロセスから脱却について説明します。湿式化学合成とは、調整された化学反応と処理条件を使用して、ナノ材料の純度、界面化学、および微細構造を制御する新たなアプローチです。1～100 nm のスケールで材料を合成できるようになったことで、独自の特性を持つ新たなクラスのナノ材料が生まれました。このナノ材料は、建設から改良型センサー、標的をより限定した治療薬まで、幅広いアプリケーションに活用することができます。
このアプリケーションノートでは、回折格子の高速（30 分未満）特性解析について取り上げています。複数の角度で光度を測定し、選択した入射角で格子の特性解析を行えました。また、データ採取プロセスを自動で実行できました。
このアプリケーションノートでは、コーティングなしのフューズドシリカの光学特性を自動でルーチン測定できるメソッドについて説明し、測定結果と理論値を比較しています。
このアプリケーションノートでは、サンプルを回転方向と半径方向に位置決めできる新しいオートサンプラについて取り上げています。このオートサンプラを用いたメソッドにより、バンドギャップエネルギーが基板全体にマッピングされました。
UV-Vis、UV-Vis-NIR、UMS、FTIR、LDIR、蛍光分光分析など、光学部品の試験に活用できるアジレントの分子分光分析ポートフォリオをご覧いただけます。
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