エレクトロニクスおよび半導体の製造に必要となる物質、化学薬品、および機器は、人体に有害である可能性があります。そのため、これらの製造プロセスには、厳格な品質基準と安全基準が適用されます。半導体およびエレクトロニクス業界は、REACH、RoHS、WEEE、SEMI など、環境・健康・安全（EHS）規制および規格へのコンプライアンスが義務付けられています。これらの規制の適用範囲は、原料試験から最終製品の QA/QC にいたるプロセスの他、放出物のモニタリングおよび管理、廃水の排出などの付随プロセスにまでおよびます。半導体およびエレクトロニクス業界に向けたアジレントの EHS 試験技術により、EHS 規制へのコンプライアンスを確保することができます。
フタレートは、可塑剤として幅広い製品で使用されており、環境へと容易に放出されます。多くの研究により、フタレートが喘息、内分泌かく乱、繁殖異常、がん、低出生体重、自閉症、ADHD などの健康問題に影響することが示唆されてきました。これを受け、これらの化合物に対する規制が欧州連合、米国、およびその他諸国で発効されています。Agilent Intuvo 9000/5977B GC/MSD システムでは、プラスチック中のフタレートを 6 分未満で定量検出できる高速スクリーニングワークフローが提供されます。
このアプリケーションノートでは、電子装置で難燃剤として一般的に使用されているポリ臭化ビフェニルおよびポリ臭化ジフェニルエーテルの高速分析メソッドについて取り上げています。これらの化学薬品は、空気、水、土壌、および生存生物中に残留性有機汚染物質として蓄積されます。このメソッドによる合計分析時間は 8.8 分で、国際電気標準会議の規格（IEC 62321-6）で定められているメソッドの半分です。
Agilent 6495 LC/MS/MS を用いた堅牢で高感度のメソッドによる、水サンプルに含まれる有害化学物質（PFOS、PFOA、PFAS、HBCD）のルーチン測定について取り上げています。このメソッドでは、水性サインプルを直接注入することで、サンプル分析を高速化し、コストのかかる従来のサンプル前処理法で問題になる可能性のあるバックグラウンドコンタミネーションのリスクを低減することができました。このメソッドにより、広いキャリブレーション範囲にわたり優れた直線性と精度が得られました。
このアプリケーションノートで取り上げるメソッドでは、GC/MS を使用して、電子機器で広く使用され、RoHS 2 および REACH の規制対象となっている 7 種類のフタレートのサンプルスクリーニングを行いました。
このアプリケーションノートでは、FTIR を使用して、エレクトロニクス由来のポリマーなど、ポリマー、プラスチック、複合材、およびエラストマー材料を同定した結果を紹介しています。
このウェビナーでは、FTIR の概要、機器の選択ガイド、FTIR によるフタレートおよびポリマーの分析データについて説明します。
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