Agilent JetClean セルフクリーニングイオン源

Clean less, analyze more

Agilent JetClean Self-Cleaning Ion Source

イオン源からマトリックスの汚れを自動的に除去

マトリックスの汚れは、ルーチン分析で使用しているシングルおよびトリプル四重極 GC/MS では避けられない問題です。これまでイオン源の汚れを除去するには、イオン源を分解して、レンズなどのイオン源の部品を研磨洗浄した後、イオン源を元どおりに戻し、機器を再キャリブレーションする必要がありました。

Agilent JetClean セルフクリーニングイオン源により、このような手作業によるイオン源クリーニングのダウンタイムを減少させることができて、ラボの生産性が向上します。

この特許取得済みの画期的な技術は、Agilent シングルおよびトリプル四重極 GC/MS システムでのマトリックスの汚れを防ぐ、最も高速で最も簡単な方法です。Agilent JetClean の特長は、以下のとおりです。

  • 手作業でイオン源のメンテナンスを行わなくても長期間にわたって安定した一貫性のあるレスポンス
  • イオン源の分解および再組み立ての頻度を減らすことによる機器のダウンタイムの低減

Agilent JetClean セルフクリーニングイオン源は、新規に購入されるアジレントのシングルおよびトリプル四重極 GC/MS システムのオプションとしてご提供いたします。また、既存の Agilent 5975 (7890GC のみ)、5977A/B、7000B/C/D、7010A/B GC/MS システムにアクセサリとして追加することも可能です。

JetClean の情報が集まったカタログ、ポスター、およびアプリケーションノートが含まれているキットをご覧ください。

ダウンロードはこちら

お問い合わせ先

アジレントの担当スペシャリストへのお問い合わせまたはお見積もりのご依頼はこちらから。

JetClean セルフクリーニングイオン源により、これまでのクリーニング時間を分析に変える方法はこちらです。

新しいアプリケーションノート: JetClean の優れた実力

パーム油中の PAHS 分析: 堅牢性が飛躍的に向上

詳細はこちら

食品および飼料中の
農薬に対する感度と再現性の維持

詳細はこちら

エチレンおよびプロピレン中の汚染物質: 超微量レベルの検出

詳細はこちら