Select Low Sulfur – 追加情報

Agilent J&W Select Low Sulfur GC カラムは、プロピレンに含まれる硫黄成分の検出下限を向上する必要がある石油化学分析のニーズに対応します。この新しいカラムは独自の選択性と不活性度を備えているため、反応性の高い揮発性硫黄成分に対する最高の不活性度により検出下限が大幅に向上します。また、独自の選択性と粒子剥離の抑制により、高い信頼性と高品質のデータが得られます。

特長	利点	メリット
最高レベルのカラム不活性度	活性化合物のピーク形状を向上。化合物の損失や劣化を最小限に抑制 (ppb レベルの H₂S で 100% 近い回収率)。メンテナンスなしでより多くの分析を実行	より高精度の定量と信頼性の高い結果。検出下限の向上
独自の選択性により共溶出とマトリックスの干渉を防止	クエンチングを排除	パルスド炎光光度検出器 (PFPD)、化学発光硫黄検出器 (SCD)、原子発光検出器 (AED) に対応
高浸透性 PLOT 固定相	揮発性成分の高い保持力	クライオフォーカス（低温冷却）不要。分析あたりのコストを削減
条件の厳しい Select Low Sulfur テストプローブ混合物質を使用した独自の QC テスト手順	一貫したカラム不活性度	より信頼性の高い分析結果
機械的安定性	粒子剥離なし	バックフラッシュ操作が可能。スパイクのないクロマトグラムで優れたデータ品質を実現
狭いリテンションインデックスウィンドウ	最高のカラム間再現性。カラム交換時のメソッド調整は最小限	確信が持てる分析結果。20 ppb までの低濃度 H₂S、COS、およびメチルメルカプタンで信頼性と再現性の高い結果を実現。サンプルスループットの向上と機器のダウンタイムの短縮

Agilent J&W GC カラムでは、業界で最も厳しい QC 仕様でのカラムブリード、感度、カラム効率のテストを実施しているため、定性および定量分析の結果に最高の信頼性がもたらされます。
テストプローブ混合物や結果のクロマトグラムを含む QC テスト条件の詳細については、各 GC カラムに付属の『Agilent J&W GC Column Performance Summary』を参照してください。

微量硫黄の高精度定量
固定相にシリカを使用した GC カラムとは異なり、Agilent J&W Select Low Sulfur GC カラムは硫黄成分存在下でも高い不活性度を示すため、検出下限が大幅に向上します。

マトリックスからの硫黄成分の分離
Agilent J&W Select Low Sulfur GC カラムは高い選択性を備えているため、薄膜シロキサン固定相を使用する GC カラムとは異なり、H2S、COS、メルカプタン、および C3 炭化水素マトリックスを分離することができます。つまり、検出器で硫黄化合物のクエンチング現象が発生しないため、マトリックス適合手順の必要性が軽減されます。これと同時に、データ品質と生産性が向上します。

卓越したマトリックスのロード性能
固定相が良好な浸透性とサンプル容量を備えているため、微量分析に必要な卓越したマトリックスのロード性能が実現します。この結果、プロピレンやプロパンマトリックスなどのバルクに含まれる微量 H2S、COS、およびメチルメルカプタンの定量が可能になります。

スパイクなし
Agilent J&W Select Low Sulfur は、保持力の高い革新的な多孔質ポリマを固定相として使用したキャピラリカラムですが (Porous Layer Open Tubular (PLOT))、粒子剥離はありません。この結果、スパイクがないクリーンなクロマトグラムと長いカラム寿命が実現します。さらに、固定相がきわめて堅牢であるため、高流量のバックフラッシュアプリケーションにも非常に適しています。

オーダー情報

部品番号	長さ（m）	内径（mm）	N/m	価格
CP8575	60	0.32	3083	156,000

このチャートは、Agilent J&W Select Low Sulfur カラムを使用したときの H₂S、COS、およびメチルメルカプタンの直線性を示したものです (直線性の測定範囲は 20 ～ 290 ppb)。

PPFD のチャート

Agilent J&W Select Low Sulfur と GC-PFPD を使用したときのプロピレンマトリックス中硫黄化合物 (H₂S、COS、CH₃SH) のクロマトグラム。

SCD のチャート

Agilent J&W Select Low Sulfur と GC-SCD を使用したときのプロピレンマトリックス中硫黄化合物 (H₂S、COS、CH₃SH) のクロマトグラム。