Pub.No. GC-MS-201912TW-001
JetClean セルフクリーニングイオン源 (JetClean) を搭載した Agilent 7010B トリプル四重極GC/MS (GC/MS/MS) を使用して、廃塗膜中の微量 PCB の高速分析および Thermal Separation Probe (TSP) を使用したスクリーニング分析について検討を行いました。GC カラムに VF Rapid-MS PCB screen column を使用することで、1 サンプルあたり 14 分の分析時間にできました。5 ng/mL の KC-mix 標準液を繰り返し測定して得られた定量下限値は 0.0044 mg/kg となり、微量 PCB 分析を行うのに十分な検出感度が得ることができました。
分野 | 食品および飲料検査、環境 |
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キーワード | PCB、塗膜、JetClean、7010 GC/MS/MS、TSP、高速分析、スクリーニング分析 |
掲載年月 | 2019/12 |
ページ数 | 6ページ (PDFファイルサイズ 1.30MB) |