Pub.No. 5994-7224JAJP
分光分析におけるスペクトルデータの品質は、分析対象サンプルを通過する入射ビームに大きく左右されます。バンドパスフィルタやエッジフィルタ(例:ビームスプリッタ)など、大きな入射角(AOI)で分析するサンプルの場合、最適な結果を達成するには、高レベルのビーム平行度を維持することが必要になります。この制御は、アプリケーション要件に応じてカスタマイズ可能な、分光光度計内のアパーチャで入射ビームを調整することで行います。今回の研究では、Agilent Cary 多角度可変自動測定アクセサリ(UMA)を搭載した Agilent Cary 7000 UV-Vis-NIR 分光光度計を使用しました。光学フィルタのエッジ急峻度を求めるためのデータ品質の向上を目的に、UMA 内でさまざまなアパーチャを使用してビーム平行度を調査しました。
分野 | 材料試験と研究 |
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キーワード | Universal Measurement Accessory; UMA; degree of beam collimation; f-number; apertures; solids; optical materials |
掲載年月 | 2025/02 |
ページ数 | 6ページ (PDFファイルサイズ 573kB) |